MÁY PHÂN TÍCH XRD ĐỂ BÀN

Công suất ống

600/300 W (theo yêu cầu)

Mục tiêu

Cu (Cr, Fe, Co, Mo - tùy chọn)

Hệ thống làm mát

Làm mát bằng nước nội bộ: mạch kín

Máy đo góc

Θ-Θ dọc, bán kính 150 mm

Phạm vi quét

-6° đến +154° (2θ)

Bước tối thiểu

0.001° (2θ)

Độ chính xác định vị

+/- 0.01° (2θ)

Tốc độ quét

0.01–600°/phút

Trọng lượng

115 kg

Máy tính cá nhân

PC với hệ điều hành Windows

Giao diện

USB/Ethernet

Kích thước

700 x 700 x 820 (mm)

Kích thước pixel

50 µm x 8 mm

55 x 55 µm

Loại /Lượng pixel

Ma trận 2D / 250x250

Phạm vi năng lượng (keV)

2-60

Chế độ hoạt động 

Ngưỡng đôi

Tốc độ khung hình (Hz)

16

Làm mát

Khối lượng module (g)

41

TELLUSCon
dùng để điều khiển hệ thống và thu thập dữ liệu

• Giao diện được tối ưu hóa cho cả người dùng có kinh nghiệm và không có kinh nghiệm
• Đo lường theo từng bước hoặc quét liên tục
• Kịch bản đo lường được định sẵn
• Xử lý dữ liệu trước
• Báo cáo kết quả đo lường

PHẦN MỀM CHUYÊN DỤNG
dùng để phân tích dữ liệu nâng cao

• Xử lý dữ liệu trước (bộ lọc đơn sắc ảo, chỉnh hệ số phân cực Lorentz, chỉnh sửa hấp thụ, làm mịn, định nghĩa đường nền)
• Tìm kiếm peak
• Phân tích pha định tính
• Phân tích định lượng với RIR và các phương pháp hiệu chuẩn tiêu chuẩn nội bộ
• Tinh chỉnh các thông số mạng tinh thể bằng phương pháp khớp toàn bộ mô hình (Rietveld, Pawley, Le Bail)
• Báo cáo phân tích

Cơ sở dữ liệu

• COD (bộ sưu tập truy cập mở)
• PDF-2 (tùy chọn)

Quang học

• Mặt nạ chùm tia tới
• Khe Soller
• Khe phân kỳ
• Bộ hấp thụ chùm tia trực tiếp
• Bộ khe căn chỉnh

Giá đỡ mẫu

• Các giá đỡ tiêu chuẩn (hốc sâu và nông, đục lỗ)
• Giá đỡ vật liệu tham chiếu tiêu chuẩn,
• Giá đỡ bằng kính

Bộ lọc K-beta 

         Bộ lọc Ni 0.02 mm cho chùm tia nhiễu xạ

Vật liệu tham chiếu tiêu chuẩn

         NIST 1976c

Phụ kiện tùy chọn 

• Khe chống tán xạ
• Tấm không nhiễu xạ
• Giá đỡ mẫu quay
• Bộ thay mẫu 8 vị trí
• Lưỡi dao - collimator 
• Buồng gia nhiệt 
• Khe phân kỳ thay đổi (VDS) 
• Giá đỡ cho mẫu số lượng lớn