XRD (X-ray Diffraction) là phương pháp phân tích dựa trên hiện tượng nhiễu xạ tia X, được sử dụng để xác định cấu trúc tinh thể của các vật liệu. Phương pháp này giúp chúng ta hiểu rõ hơn về cách các nguyên tử sắp xếp trong một vật liệu, từ đó xác định các tính chất của vật liệu đó.
Trong XRD, một chùm tia X đi qua khe phân kỳ và chiếu vào bề mặt mẫu, các chùm tia X đến mẫu này bị phân tán ngược trở lại bởi mạng tinh thể tuần hoàn, gây ra sự giao thoa, nhiễu xạ tia X. Chúng ta sẽ thu được phổ nhiễu xạ tia X (peak hay đỉnh của sự giao thoa tăng cường) nếu chùm tia X chiếu tới bề mặt mẫu.
Máy phân tích XRD TELLUS là thiết bị để bàn vượt trội, kết hợp đầu dò tiên tiến và nguồn tia X bền bỉ. Với khả năng phân tích nhanh và chính xác, TELLUS cung cấp dữ liệu chất lượng cao ngay cả với các mẫu nhỏ. Giao diện phần mềm thân thiện giúp dễ dàng sử dụng cho cả người mới và các chuyên gia.
TELLUS là trợ thủ đắc lực trong các phòng thí nghiệm: Máy giúp các nhà nghiên cứu thực hiện các nghiên cứu có độ chính xác cao trên các mẫu tổng hợp. Đồng thời, sinh viên cũng có thể nhanh chóng và dễ dàng làm quen với kỹ thuật nhiễu xạ tia X.
Thiết bị này có thể được trang bị detector Si đếm photon 1D hoặc 2D với kích thước pixel 50μm: Điều này giúp cho việc đo đạc trở nên nhanh chóng và có độ phân giải cao. Detector có tuổi thọ cao, bền bỉ và không yêu cầu bảo trì, hiệu suất đạt 100% cho bức xạ tia X, giảm thiểu tối đa tổn thất cường độ.
Goniometer chính xác cùng với kích thước pixel nhỏ đảm bảo độ chính xác góc tốt hơn ±0.01° (2θ): Thiết bị và các thành phần quang học phù hợp, cung cấp độ rộng đỉnh ít nhất 0.05° 2θ trên toàn bộ dải góc.
Giao diện phần mềm với các kịch bản thí nghiệm được định nghĩa sẵn làm cho quá trình đo trở nên rõ ràng ngay cả với người dùng mới: Các kỹ sư trong lĩnh vực XRD có thể tạo ra giao thức riêng của mình. Phần mềm phân tích dựa trên các phương pháp phân tích tiên tiến giúp cho việc phân tích định lượng và định tính mẫu trở nên chính xác hơn.
Cả detector và nguồn tia X đều có tuổi thọ cao: Giúp giảm đáng kể chi phí bảo trì và tiết kiệm ngân sách.
Công suất ống |
600/300 W (theo yêu cầu) |
Mục tiêu |
Cu (Cr, Fe, Co, Mo - tùy chọn) |
Hệ thống làm mát |
Làm mát bằng nước nội bộ: mạch kín |
Máy đo góc |
Θ-Θ dọc, bán kính 150 mm |
Phạm vi quét |
-6° đến +154° (2θ) |
Bước tối thiểu |
0.001° (2θ) |
Độ chính xác định vị |
+/- 0.01° (2θ) |
Tốc độ quét |
0.01–600°/phút |
Trọng lượng |
115 kg |
Máy tính cá nhân |
PC với hệ điều hành Windows |
Giao diện |
USB/Ethernet |
Kích thước |
700 x 700 x 820 (mm) |
Dectris Mythen2 R 1D | Advacam MiniPIX TPX 3 | |
Kích thước pixel |
50 µm x 8 mm |
55 x 55 µm |
Loại /Lượng pixel |
Tuyến tính 1D / 640 |
Ma trận 2D / 250x250 |
Phạm vi năng lượng (keV) |
4-40 |
2-60 |
Chế độ hoạt động |
Ngưỡng đơn |
Ngưỡng đôi |
Tốc độ khung hình (Hz) |
100 |
16 |
Làm mát |
Không khí | |
Khối lượng module (g) |
100 |
41 |
TELLUSCon |
|
PHẦN MỀM CHUYÊN DỤNG |
|
Cơ sở dữ liệu |
|
Quang học |
|
Giá đỡ mẫu |
|
Bộ lọc K-beta |
Bộ lọc Ni 0.02 mm cho chùm tia nhiễu xạ |
Vật liệu tham chiếu tiêu chuẩn |
NIST 1976c |
Phụ kiện tùy chọn |
|