KÍNH HIỂN VI RAMAN – SNOM (alpha300 RS) – OXFORD INSTRUMENTS (WITec)

Xuất xứ: Đức

Thương hiệu:

Danh mục: Thương hiệu:

Kính hiển vi Raman-SNOM alpha300 RS kết hợp khả năng chụp ảnh Raman đồng tiêu với hiển vi quang học gần trường (SNOM), cho phép hình ảnh quang học có độ phân giải vượt qua giới hạn nhiễu xạ.

Thiết bị tích hợp đầy đủ các tính năng của alpha300 S và alpha300 R cùng với nhiều chế độ hoạt động AFM, lý tưởng cho các kỹ thuật chụp ảnh Raman độ phân giải cao như nearfield-Raman. Đây là giải pháp hoàn hảo cho các yêu cầu thí nghiệm phức tạp, mang lại độ chính xác vượt trội trong phân tích vật liệu.

KÍNH HIỂN VI RAMAN – SNOM (alpha300 RS) – OXFORD INSTRUMENTS (WITec)

TÍNH NĂNG CHÍNH:

  • Sự kết hợp tuyệt vời giữa hình ảnh bề mặt có độ phân giải cao (SNOM) và hình ảnh hóa học (Raman)
  • Thích hợp lý tưởng cho các kỹ thuật kết hợp như hình ảnh Raman trường gần
  • Việc chuyển đổi thuận tiện giữa các kỹ thuật đo lường được thực hiện bằng cách xoay tháp pháo vật kính
  • Không cần thiết phải di chuyển mẫu giữa các phép đo

THÔNG SỐ KỸ THUẬT:

Các Chế Độ Hoạt Động Chung Của Kính Hiển Vi Raman:

Các Chế Độ Hoạt Động Của SNOM:

  • Chụp ảnh phổ Raman: Thu nhận toàn bộ phổ Raman tại mỗi điểm ảnh
  • Quét theo mặt phẳng (hướng x-y) và chiều sâu (hướng z) với định vị mẫu thủ công
  • Chụp ảnh lớp: Tạo hình ảnh Raman đồng tiêu 3D
  • Chuỗi thời gian
  • Thu nhận phổ Raman tại một điểm duy nhất
  • Phân tích độ sâu tại một điểm duy nhất
  • Quang phổ kế UHTS kết nối qua sợi quang, được thiết kế đặc biệt cho kính hiển vi Raman và các ứng dụng với cường độ ánh sáng thấp
  • Kính hiển vi huỳnh quang đồng tiêu
  • Kính hiển vi trường sáng
  • Các chế độ Hiển vi Quang học Gần Trường (SNOM): chế độ từ dưới lên và từ trên xuống, chế độ thu thập
  • Các chế độ Kính hiển vi đồng tiêu (CM):
  1. Truyền qua
  2. Phản xạ
  3. Huỳnh quang (tùy chọn)
  4. Kết hợp SNOM-AFM: Các chế độ hoạt động AFM của alpha300 A được bao gồm hoặc có sẵn tùy chọn
  5. Thu nhận các đường cong lực-khoảng cách và đường cong ánh sáng-khoảng cách
  6. Chiếu sáng cố định từ dưới
  7. Chiếu sáng phản xạ toàn phần bên trong (tùy chọn)

 

Các Tính Năng Cơ Bản Của Kính Hiển Vi

Các Chế Độ Hoạt Động Raman Tùy Chọn/Nâng Cấp

  • Kính hiển vi quang học chất lượng nghiên cứu với mâm xoay 6 thấu kính
  • Hệ thống video: camera CCD video
  • Camera video đen trắng độ nhạy cao để xem mẫu và đầu dò SNOM/AFM trong chế độ truyền qua
  • Nguồn sáng LED trắng cho chiếu sáng Köhler của đầu dò AFM và mẫu
  • Định vị mẫu thủ công theo hướng x và y
  • Đế kính hiển vi với hệ thống cách ly rung động chủ động
  • Kết nối qua sợi quang
  • Thêm laser, có nhiều bước sóng tùy chọn
  • Thêm quang phổ kế UHTS (UV, VIS, NIR)
  • Định vị và đo mẫu tự động, điều khiển bằng động cơ với các bàn quét điều khiển piezo
  • Chụp ảnh Raman đồng tiêu tự động
  • Đo nhiều khu vực và nhiều điểm tự động
  • Tùy chọn chụp ảnh Raman siêu nhanh (1300 phổ mỗi giây)
  • Nâng cấp cho các ứng dụng huỳnh quang epi
  • Bộ chuyển đổi cho các mẫu có chiều cao lớn hơn
  • TrueSurface cho phân tích độ sâu Raman
  • Lấy nét tự động

 

Các chế độ vận hành của AFM

Giao diện

  • Chế độ tiếp xúc
  • Chế độ lực bên
  • Các chế độ tùy chọn khác
  • Phần mềm WITEC điều khiển thiết bị và đo lường, đánh giá và xử lý dữ liệu

ỨNG DỤNG THỰC TẾ:

Bên trái: Ảnh topography của graphene tách lớp được ghi nhận đồng thời trong quá trình đo Raman gần trường, kèm theo đường cong topography tương ứng được đo dọc theo đường màu xanh.
Bên phải: Ảnh Raman gần trường thể hiện cường độ dải G (G-band) tại cùng khu vực mẫu, kèm theo biểu đồ cường độ tương ứng được đo dọc theo đường màu đỏ.

Sản phẩm đã xem

Kính hiển vi Raman-SNOM alpha300 RS kết hợp khả năng chụp ảnh Raman đồng tiêu với hiển vi quang học gần trường (SNOM), cho phép hình ảnh quang học có độ phân giải vượt qua giới hạn nhiễu xạ. Thiết bị tích hợp đầy đủ các tính năng của alpha300 S và alpha300 R cùng với nhiều chế độ hoạt động AFM, lý tưởng cho các kỹ thuật chụp ảnh Raman độ phân giải cao như nearfield-Raman. Đây là giải pháp hoàn hảo cho các yêu cầu thí nghiệm phức tạp, mang lại độ chính xác vượt trội trong phân tích vật liệu.