MICRO XRF (W SERIES)- BOWMAN

Xuất xứ: Mỹ

Thương hiệu:

Danh mục: Thương hiệu:

W Series Micro XRF của Bowman có chùm tia X 7,5 µm FWHM, nhỏ nhất thế giới cho phân tích độ dày lớp phủ bằng công nghệ XRF, lý tưởng để đo các linh kiện nhỏ như BGA và mối hàn. Thiết bị sử dụng hệ thống camera kép với độ phóng đại 140X để hình ảnh chính xác và một camera phụ để xem trực tiếp. Bàn X-Y lập trình có độ chính xác ±1 µm cùng với nhận dạng mẫu và tự động lấy nét giúp đo lường chính xác và phân tích đa điểm tự động. Hệ thống cũng hỗ trợ lập bản đồ 3D để trực quan hóa địa hình lớp phủ. Cấu hình tiêu chuẩn bao gồm ống anot molybden (tùy chọn crom hoặc tungsten) và đầu dò Silicon Drift độ phân giải cao. Thiết bị có thể đo đồng thời tối đa năm lớp phủ và vận hành với phần mềm Archer, giúp tối ưu hóa quy trình đo, báo cáo và thiết lập ứng dụng.

MODEL: MICRO XRF W SERIES 

THÔNG SỐ KỸ THUẬT 

Kích thích tia X 50 W với ống Mo, quang học mao dẫn @7.5µm FWHM ở 17 KeV
Tùy chọn Ống Cr hoặc W
Đầu dò Đầu dò Silicon Drift có cửa sổ lớn với độ phân giải 190eV hoặc tốt hơn
Độ sâu tiêu điểm đầu ra Cố định ở 0.08″ (2.03mm)
Môi trường hoạt động 68°F (20°C) đến 77°F (25°C), độ ẩm tối đa 98% RH (không ngưng tụ)
Trọng lượng 190kg (420lbs)
Bàn di chuyển XYZ lập trình XYZ travel: 300mm (11.8″) x 400mm (15.7″) x 89mm (3.5″)
Bàn XY 305mm (12″) x 406mm (16″)
Độ chính xác trục XYZ 1µm (40µ”)
Phạm vi nguyên tố Nhôm (Al) Z=13 đến Uranium (U) Z=92
Phân tích lớp và nguyên tố Tối đa 5 lớp (4 lớp + nền), 10 nguyên tố trong mỗi lớp, phân tích tối đa 30 nguyên tố cùng lúc
Bộ lọc sơ cấp 4 bộ lọc sơ cấp
Xử lý xung kỹ thuật số Bộ phân tích đa kênh kỹ thuật số 4096 CH với thời gian tạo dạng linh hoạt
Tính năng xử lý tín hiệu Tự động hiệu chỉnh thời gian chết và đỉnh thoát
Bộ xử lý Intel Core i5 thế hệ 9, ổ cứng SSD, RAM 16GB, Microsoft Windows 11 Professional 64-bit
Quang học camera Cảm biến CMOS 1/4″ (6mm) – độ phân giải 1280×720 VGA
Độ phóng đại video 140X kính hiển vi, 7X zoom kỹ thuật số, 9X macro & chế độ xem bàn làm việc
Nguồn điện 150W, 100~240V; tần số 47Hz đến 63Hz
Kích thước (Cao x Rộng x Sâu) Bên trong: 102mm (4″) x 914mm (36″) x 737mm (29″)

Bên ngoài: 787mm (31″) x 940mm (37″) x 991mm (39″)

Các tính năng mới Hệ thống bảo vệ va chạm trục Z, tự động lấy nét và laser lấy nét, nhận diện mẫu, truyền dữ liệu tùy chỉnh nâng cao

Sản phẩm đã xem

W Series Micro XRF của Bowman có chùm tia X 7,5 µm FWHM, nhỏ nhất thế giới cho phân tích độ dày lớp phủ bằng công nghệ XRF, lý tưởng để đo các linh kiện nhỏ như BGA và mối hàn. Thiết bị sử dụng hệ thống camera kép với độ phóng đại 140X để hình ảnh chính xác và một camera phụ để xem trực tiếp. Bàn X-Y lập trình có độ chính xác ±1 µm cùng với nhận dạng mẫu và tự động lấy nét giúp đo lường chính xác và phân tích đa điểm tự động. Hệ thống cũng hỗ trợ lập bản đồ 3D để trực quan hóa địa hình lớp phủ. Cấu hình tiêu chuẩn bao gồm ống anot molybden (tùy chọn crom hoặc tungsten) và đầu dò Silicon Drift độ phân giải cao. Thiết bị có thể đo đồng thời tối đa năm lớp phủ và vận hành với phần mềm Archer, giúp tối ưu hóa quy trình đo, báo cáo và thiết lập ứng dụng.

A Series Micro XRF được thiết kế để đo chính xác các đặc điểm X-ray nhỏ nhất trong chất bán dẫn và vi điện tử. Hệ thống hỗ trợ PCB lớn và wafer mọi kích thước, với chùm tia X 7.5 μm FWHM – nhỏ nhất thế giới trong XRF. Camera kép 140X cung cấp hình ảnh chi tiết, bàn X-Y lập trình di chuyển 600 mm với độ chính xác ±1 μm. Nhận diện mẫu, tự động lấy nét, và bản đồ 3D giúp tối ưu hóa đo lường.

Glovebox mã KK-011AD là một thiết bị chuyên dụng được thiết kế để tạo ra môi trường làm việc kín, không có độ ẩm và oxy, nhằm bảo vệ các mẫu vật hoặc quy trình nhạy cảm. Thiết bị này được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực như nghiên cứu hóa học, sản xuất dược phẩm, và công nghiệp điện tử.

error: Content is protected !!