XRF (M SERIES)- BOWMAN

Xuất xứ: Mỹ

Thương hiệu:

Danh mục: Thương hiệu:

Dòng M Series cung cấp đo độ dày mạ hiệu suất cao cho các chi tiết siêu nhỏ, sử dụng quang học poly-capillary tiên tiến, thu hẹp tia X xuống 7.5μm FWHM. Máy được trang bị camera phóng đại 140x với zoom kỹ thuật số cao cấp, cùng camera macro thứ hai giúp dễ dàng định vị điểm đo. Bàn X-Y lập trình độ chính xác cao hỗ trợ đo nhiều điểm, với nhận diện mẫu tự động và hệ thống lập bản đồ 2D để phân tích bề mặt lớp phủ. Cấu hình tiêu chuẩn bao gồm quang học 15μm, đầu dò LSDD độ phân giải cao, và bàn X-Y lập trình. Do tiêu cự gần, mẫu đo phải phẳng.

MODEL: XRF M SERIES

THÔNG SỐ KỸ THUẬT 

Kích thích tia X 50W, bia W với quang học capillary @15µm FWHM tại 17 KeV

Tùy chọn: Cr, Mo hoặc Rh

Đầu dò Đầu dò silicon trôi lớn (Large window SDD) với độ phân giải 190eV hoặc tốt hơn
Số lớp và nguyên tố phân tích 5 lớp (4 lớp + nền), 10 nguyên tố mỗi lớp. Phân tích thành phần lên đến 30 nguyên tố cùng lúc
Bộ lọc 4 bộ lọc chính
Độ sâu tiêu cự đầu ra Cố định tại 0.15″ (3.81mm)
Xử lý xung kỹ thuật số Bộ phân tích đa kênh kỹ thuật số 4096 CH với thời gian tạo dạng linh hoạt. Xử lý tín hiệu tự động bao gồm hiệu chỉnh thời gian chết và hiệu chỉnh đỉnh thoát
Máy tính Bộ xử lý Intel Core i5 thế hệ 9, ổ cứng thể rắn, RAM 16GB, hệ điều hành Microsoft Windows 11 Professional 64-bit hoặc tương đương
Quang học camera Cảm biến CMOS 1/4″ (6mm), độ phân giải 1280×720 VGA, 250X với hệ thống camera kép hoặc 45X với camera đơn trên màn hình 381mm (15″)
Độ phóng đại video 140X kính hiển vi, 7X zoom kỹ thuật số, 9X Macro & Table View
Nguồn điện 150W, 100-240V, tần số từ 47Hz đến 63Hz
Môi trường làm việc Nhiệt độ từ 20°C (68°F) đến 25°C (77°F), độ ẩm tối đa 98% RH, không ngưng tụ
Trọng lượng 70kg
Bàn X-Y lập trình được Kích thước bàn: 432mm (17″) x 406mm (16″)

Hành trình XY: 165mm (6.5″) x 165mm (6.5″), độ chính xác cao

Bàn X-Y mở rộng tối đa (Tùy chọn) Kích thước bàn: 813mm (32″) x 781mm (30.75″)

Hành trình XY: 406mm (16″) x 406mm (16″)

Hiện có sẵn với tùy chọn bàn mở rộng tối đa

Kích thước bên trong Chiều cao: 137mm (5.4″), Chiều rộng: 305mm (12″), Chiều sâu: 330mm (13″)
Kích thước bên ngoài Chiều cao: 508mm (20″), Chiều rộng: 457mm (18″), Chiều sâu: 610mm (24″)

Sản phẩm đã xem

Dòng M Series cung cấp đo độ dày mạ hiệu suất cao cho các chi tiết siêu nhỏ, sử dụng quang học poly-capillary tiên tiến, thu hẹp tia X xuống 7.5μm FWHM. Máy được trang bị camera phóng đại 140x với zoom kỹ thuật số cao cấp, cùng camera macro thứ hai giúp dễ dàng định vị điểm đo. Bàn X-Y lập trình độ chính xác cao hỗ trợ đo nhiều điểm, với nhận diện mẫu tự động và hệ thống lập bản đồ 2D để phân tích bề mặt lớp phủ. Cấu hình tiêu chuẩn bao gồm quang học 15μm, đầu dò LSDD độ phân giải cao, và bàn X-Y lập trình. Do tiêu cự gần, mẫu đo phải phẳng.

Buồng kiểm tra nhiệt độ/độ ẩm PH140 là thiết bị chuyên dụng dùng để kiểm tra sự ổn định của nhiệt độ và độ ẩm trong các ứng dụng công nghiệp, nghiên cứu và kiểm định chất lượng.

error: Content is protected !!