EDX-B3T/B6T là dòng máy XRF chuyên dụng để phân tích thành phần vật liệu phủ và đo chính xác độ dày lớp phủ. Thiết bị chiếu tia X lên mẫu và xác định độ dày lớp phủ dựa trên cường độ tia X thứ cấp phát ra từ mẫu, cho phép thực hiện phân tích không phá hủy. Các ưu điểm nổi bật của thiết bị bao gồm độ chính xác cao, tốc độ đo nhanh, kiểm tra không phá hủy và vận hành đơn giản. Thiết bị có khả năng đồng thời đo độ dày của tối đa 5 lớp phủ và nhanh chóng xác định thành phần của vật liệu phủ, mang lại giải pháp hiệu quả cho việc phân tích lớp phủ và kiểm soát chất lượng.